میکروسکوپ الکترونی مدل TESCAN-XMU MERLIN
مارک | مارک سم (SEM) |
مدل | مدل TESCAN-XMU MERLIN |
کشور سازنده | China |
گارانتی | |
رزولوشن | |
سنسور تصویر CCD | ندارد |
Footswitch | ندارد |
منبع نور | |
Line scan | دارد |
تهیه تصاویر سه بعدی | دارد |
تهیه تصاویر SEM | دارد |
بزرگنمایی | |
قابل نصب برروی پایه سقفی و زمینی | ندارد |
تیوب | |
محدوده کارکرد | |
قابلیت نصب دوربین دیجیتال | ندارد |
نمایشگر LCD | ندارد |
Varioskop | ندارد |
مشخصات دستگاه :
- تعیین ترکیب شیمیایی زمینه و (EDS) آنالیز نقطه ای و بالک به صورت عنصری
- تهیه تصاویر و بررسی ساختار میکروسکپی
- بررسی سطح شکست (فرکتوگرافی)
- شناسایی اولیه مواد مجهول
- اندازه گیری ذرات و توزیع آن
- آنالیز ساختاری و شیمیایی فیلرهای جوشکاری و بریزینگ
- Line scan , Map (انالیز صفحه ای و خطی)
- تهیه تصاویر سه بعدی
- بررسی نمونه های بایو
- تهیه تصاویر SEM در خلاء پایین
امروزه میکروسکوپهای الکترونی روبشی به طور وسیعی در دانشگاهها و مراکز تحقیقاتی مورد استفاده قرار میگیرند به طوری که با بکارگیری قابلیت های نرم افزاری، اطلاعات بسیار مفیدی در راستای مشخصه های مواد در زمینه علوم مختلف بدست می آید. اساس کار میکروسکوپهای الکترونی روبشی مبتنی بر روبش سطح نمونه توسط یک پرتو الکترونی میباشد.
میکروسکوپهای الکترونی روبشی عموما" در خلاء کار میکنند. پس از ایجاد خلاء با انجام عملیات روبش توسط پرتو الکترونی بر روی سطح نمونه، از سطح نمونه تصویری بر روی صفحه نمایشگر مشاهده میگردد. با تغییر ابزار ثبت پرتو میتوان تصاویری با اطلاعات مختلف از سطح نمونه مثل تصاویری از پستی و بلندی سطح یا تصاویری از توزیع فازها در سطح روبش بدست آورد.